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法國Phasics SID4系列波前分析儀基于其波前測量——四波橫向剪切干涉技術（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為夏克-哈特曼技術的改進型，這種技術將高分辨率和大動態范圍很好地結合在一起。能實現全面、簡便、快速的測量。

phasics SID4波前傳感器基于Phasics四波橫向剪切干涉技術，SID4波前分析儀具備了很高的的相位和強度分辨率（160x120測量點），且使用簡便。

ALPHLAS UPD系列自由空間入射超快探測器系列Z適合用于從直流到25GHz的空間光波形的測量。可提供檢測Z短為15ps上升時間的光脈沖信號，覆蓋從170至2600nm的光譜范圍。 所有探測器都由緊湊堅實的過氧極化鋁外殼封裝，供電方式可以采用電池或外接電源。 是*可提供從170到1100 nm擴展到紫外光譜范圍高速硅探測器商業產品。 另一種類型*的紫外線敏感的InGaAs探測器，可用于

SID4 Phasics系列波前傳感器 法國Phasics公司利用革新的技術研發的SID4波前探測器，具有如下*技術優勢： ◆高分辨率的相位圖，Z高分辨率可達400ｘ300。 ◆具有直接測量高發散光束的能力 ◆消色差，匹配CCD整個探測范圍，用于不同波長光而無需額外校準。 應用方向： ?激光束質量分析 ?自適應光學 ?光學系統測量 ?生物成像

零級中波紅外線(MWIR)和長波紅外線(LWIR)波片設計用于波長范圍介于3 – 10.6μm之間的應用。相對于多級波片，零級波片的帶寬較高，而且對溫度變化的敏感性較低。這些波片在各種波長下提供λ/4或λ/2延遲性，并在廣泛光譜范圍內提供高效的延遲，是多種紅外線(IR)應用的理想之選。每個MWIR和LWIR波片都鍍有增透膜，且經封裝以便于系統集成。

InPut optical Technology,Inc.作為光學行業的制造商，致力于為光學前沿和前沿的研究和應用領域提供頂級光學元件、光學系統和解決方案，特別是在超快激光器、半導體激光器和光纖激光器的應用、非線性光學驅動、脈沖采集系統、法拉第旋轉器和隔離器、光纖隔離器。 美國IPOptica法拉第隔離器&旋光器標準波長范圍覆蓋400nm-1100nm。

反射式光學系統研制、反射式擴束（縮束）系統研制、同軸變倍光學系統研制、高分辨率成像系統、特殊光學零件定制

以色列Duma公司高分辨率光束質量分析儀,在保持價格優勢的前提下，提供3096 x 2080的高分辨率，最小可測量30um直徑光束，能對連續光和脈沖光的形狀，位置，功率等光束特性進行測量。